粉体粒度测试系统参数

粒径是表示粉体颗粒尺寸大小的几何参数。但绝大多数的粉体颗粒其形状都是不规则的几何体，我们在粉体颗粒测量中把被测粉体颗粒等效成同质量球体的直径作为被测颗粒的粒径。一种粉体样品中的粉体颗粒大小各不相同，所以在测量和评价粉体时需要用粒度分布曲线才能较为地描述粉体的整体颗粒大小，即测出种粒径大小的粉体颗粒占粉体总量的比例。粉体粒径通常按颗粒大小顺序将粉体分为若干等级，以各级颗粒粒径占总体质量的百分数表示。

粉体粒度测试系统技术参数说明：

1、采用全息信号同步处理技术，实时测量速度高达每秒20000次，不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息，符合ISO13320衍射法测量技术标准。

2、改进型反演算法，用户无需选择“分析模式”，兼顾的分辨率和稳定性，无需更换透镜，无需使用标准样校准，量程范围达到0.02微米至3600微米。

3、粉体粒度测试系统采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统，克服了氦氖气体激光器预热时间长，使用寿命短的缺点。

4、粉体粒度测试系统采用偏振空间滤波技术，摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器，金属拉丝外壳设计，兼顾耐用性和提高仪器的抗干扰能力。

粉体粒度测试系统技术指标