超高速智能粒度分析仪采用的计算机技术与激光原理相结合，充分发挥了各自的优势，使粉体的粒度分析变得快速方便，满足了粉体行业粒度分析的基本需要。再加上仪器生产厂家广泛的宣传(仪器分析快速、，精度高，分析精度0.001μm)，因此该仪器得到快速发展和应用。

　　一个完整测量过程包括电子背景测量，光学背景测量和对光，加入样品，开始粒径测量，完成测量。进入测量过程后，软件界面的左下方会有对话框指示测量的进程。

　　1、测量背景：颗粒区的测量数据，由于受到设备电子背景噪音，测试光路中镜面灰尘，以及分散介质中的杂质颗粒影响会有一定的偏差。通过“测量背景”能纯化粒径测量，上述的背景信息和数据会从样品测量数据中减去以得到的数据。

　　2、加入样品：在背景测量结束后，出现加入样品提示。左方遮光度指示栏直观地表示测量样品的数量，遮光度会随着样品数量的增加而逐渐增高。在未加入样品前，右方的测量数据柱状图应该是随机变化，而且柱状数据条的高度一般不超过5。

　　3、开始测量：当遮光度达到测量要求，停止添加样品后保持稳定(一般意味着样品颗粒没有发生溶解或凝聚，样品颗粒正常稳定分散)，同时测量数据窗口显示稳定的，足够强度的柱状数据分布，可以按下“Start”键开始测量。

　　不同的光学设计（例如直线式光路设计和折叠式光路设计，透镜后/前傅立叶变换，激光光束大小等），不同尺寸、焦距规格的傅立叶透镜，不同的探测器数量和分布以及其灵敏度和噪音水平，不同规格的光学部件等都会造成相同颗粒所得到的光能分布的差异。同样的道理，如果测量仪器光路或光学器件出现了状态变化也会引起结果的偏差。