会议期间，张博士参与了第6工作组关于颗粒表征—激光衍射法标准13320（2019版）以及第11工作组关于样品制备和标准物质的讨论。张博士详细阐述了颗粒散射光能分布的反常移动及其对粒度分析的影响，分享了真理光学技术团队原创的科学研究和技术创新成果，这也是中国颗粒表征领域的*次在ISO/TC24/SC4标准讨论会上就现行标准提出重大意见。

    真理光学仪器有限公司专注于颗粒测试技术的开发和仪器的设计生产，拥有自主知识产权，是为数不多的既有能力从事颗粒表征基础理论研究又能开展应用技术开发的仪器公司，已获得“环形测量池”，“斜置梯形测量窗口”，“微量进样器”“偏振空间滤波技术”等多项，并先后推出LT3600系列高速智能激光粒度分析仪，Spraylink实时超高速喷雾粒度分析仪及Nanolink S900纳米粒度分析仪，为广大客户提供从纳米到微米，从固体颗粒到液体雾滴等多种应用领域的粒度测量技术方案。